日本理研rikenkeiki測量裝置有機(jī)電子材料用FAC-2特點(diǎn)介紹：

專用于光刻樣品的開爾文探針

輕松設(shè)置樣品，無需微調(diào)電極和樣品之間的距離

可在大氣中測量半導(dǎo)體樣品的費(fèi)米能級

由于測量時間短，因此非常適合測量隨時間變化的情況，例如成膜或表面處理后金屬表面的變化

日本理研rikenkeiki測量裝置有機(jī)電子材料用FAC-2規(guī)格參數(shù)：

有機(jī)電子材料的費(fèi)米能級測量

金屬和導(dǎo)電薄膜功函數(shù)的測量

有機(jī)EL和復(fù)制感光材料的電離勢測量

硬盤和磁帶摩擦學(xué)研究

半導(dǎo)體和引線框架表面氧化態(tài)的測量

精密電子材料中分子級薄膜污染檢測

產(chǎn)品分類：開爾文探針

模型：FAC-2

測量原理：開爾文法

測量零件尺寸：Φ10mm

測量能量范圍：3.4至6.2eV（使用功函數(shù)為5.0eV的參考樣品進(jìn)行校準(zhǔn)時）

測量時間：10秒或更短（如果樣品是金屬）

重復(fù)性（標(biāo)準(zhǔn)差）：功函數(shù)0.02eV（樣品：金板）

溫濕度范圍：溫度范圍15-35℃，濕度20-60%RH

電源：AC100V，50/60Hz 5A（最大）

外形尺寸：約235（寬）×330毫米（高）×408（深）毫米

重量：約12公斤